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Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie
UMR 7590 - Sorbonne Université/CNRS/MNHN/IRD

E-séminaire - In-situ transmission electron microscopy biasing and heating experiments of semiconducting nanowires for correlated studies and electrical contact formation - Martien den Hertog

Lundi 28 septembre 2020 à 10 h 30 - Visioconférence

Martien den Hertog - Institut Louis Néel

 

Abstract

In this seminar, I will present experiments we perform using in-situ transmission electron microscopy with both biasing and heating experiments on semiconducting nanowires.

In my group, we fabricate SiN membrane-chips. After rapidly presenting the fabrication methods of such membrane-chips, I will show examples of studies involving electrically contacted nanowires on a SiN membrane compatible with transmission electron microscopy, where we can distinguish:

- Ex-situ studies correlating the opto-electrical properties of a single nanowire with its structural properties such as the crystal structure, composition and dimensions that are measured by TEM-based characterization.

- In-situ Joule heating studies on a solid state metal-semiconductor reaction induced by heating where the evolution of the reaction is directly visualised by TEM.

- In-situ electrical biasing experiments where the variation of holographic measurements under bias can be used to analyse the behaviour of Schottky contacts and extract dopant concentrations.

13/10/20

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